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            熱流儀工作原理

            簡要描述:熱流儀工作原理適用于各類半導體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊(如收發器 transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等)、電子行業等進行IC 特性分析、高低溫循環測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗。

            • 產品型號:QSWQ7100
            • 廠商性質:生產廠家
            • 更新時間:2025-05-07
            • 訪  問  量:7745
            詳情介紹

            熱流儀工作原理控制系統

            1.15寸超大人機介面

            2.支持USB、LAN,可實現電腦手機遠程操控

            3.二種檢測模式:AIR NODE 和DUT MODE

            4.運行模式

            1)手操:手動切換/自動循環。

            2)程序:手動切換/ 自動循環。

            熱流儀工作原理滿足試驗標準:

            1.GB/T 2423.1-2008試驗A:低溫試驗方法;

            2.GB/T 2423.2-2008試驗B:高溫試驗方法;

            3.GB/T2423.22-2012試驗N: 溫度變化試驗方法

            4. GJB/150.3-2009高溫試驗

            5. GJB/150.4-2009低溫試驗          

            6. GJB/150.5-2009溫度沖擊試驗

            熱流儀工作原理工作模式:

            A)2路主空氣管輸出,由分布頭分為8路供氣,帶2套1拖8 系統

            B) 2種檢測模式Air Mode和DUT Mode

            測試和循環于高溫/常溫/低溫(或者不要常溫)

            熱流儀工作原理

            1、試驗機輸出氣流罩將被測試品罩住,形成一個較密閉空間的測試腔,試驗機輸出的高溫或低溫氣流,使被測試品表面溫度發生劇烈變化,從而完成相應的高低溫沖擊試驗;

            2、可針對眾多元器件中的某一單個IC或其它元件,將其隔離出來單獨進行高低溫沖擊,而不影響周邊其它器件,與傳統冷熱沖擊試驗箱相比,溫變變化沖擊速率更快。

            熱流儀工作原理可針對眾多元器件中的某一單個IC或其它元件,將其隔離出來單獨進行高低溫沖擊,而不影響周邊其它器件,與傳統冷熱沖擊試驗箱相比,溫變變化沖擊速率更快

            是將被控制溫度的壓縮機空氣從氣嘴噴射出來,僅僅只需要數秒鐘的時間就可以達到一個溫度試驗必須的環境,與普通的高低溫沖擊試驗箱相比較,大大的縮短了試驗時間,提高生產效率。

            熱流儀工作原理技術參數:



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